• Türkçe
    • English
  • Türkçe 
    • Türkçe
    • English
  • Giriş
Öğe Göster 
  •   RTEÜ
  • Araştırma Çıktıları | TR-Dizin | WoS | Scopus | PubMed
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
  • Öğe Göster
  •   RTEÜ
  • Araştırma Çıktıları | TR-Dizin | WoS | Scopus | PubMed
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
  • Öğe Göster
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Investigation of radiation shielding properties of CeO2 thin films prepared at different molarities

Göster/Aç

Full Text / Tam Metin (1.098Mb)

Erişim

info:eu-repo/semantics/openAccess

Tarih

2025

Yazar

Kanmaz, İmran
Köksal, Oğuzkağan
Apaydın, Gökhan
Tomakin, Murat
Cengiz, Erkan

Üst veri

Tüm öğe kaydını göster

Künye

Kanmaz, i., Köksal, O. K., Apaydin, G., Tomakin, M., & Cengiz, E. (2025). Investigation of Radiation Shielding Properties of CeO₂ Thin Films Prepared at Different Molarities. Physica Scripta, 100(39, 035945. https://doi.org/10.1088/1402-4896/adb349

Özet

In this study, CeO2 thin films were produced using the spin coting method, which is one of the sol-gel methods, in six different molarities. X-ray diffraction (XRD) patterns revealed the characteristic peaks of the films, while Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM) confirmed their homogeneous structure. Then, radiation shielding parameters like linear absorption coefficient (LAC), mass absorption coefficient (MAC), tent value layer (TVL), mean free path (MFP), and half value layer (HVL) were thoroughly examined. The results showed that increasing molarity had a significant effect on the thickness values of thin films and the absorption parameters were found to improve with increasing molarity. Both LAC and MAC values decrease as the energy level increases, but the increase in CeO2 molarity leads to a strong increase on these coefficients. The HVL value was also found to be 0.42 cm at the lowest energy of 14.957 keV and to be around 10 cm at the greatest energy of 59.543 keV (0.05 M). When the radiation energy applied to the material was raised from 14.957 keV to 59.543 keV, it was found that the MFP values of 0.05 M CeO2 thin films grew gradually from 0.61 cm to 14.51 cm. High energy radiation of 59.543 keV and a low density (0.05 M) medium resulted in peak TVL values of 33.423 cm, allowing the radiation to pass through the material with minimal interaction.

Kaynak

Physica Scripta

Cilt

100

Sayı

3

Bağlantı

https://doi.org/10.1088/1402-4896/adb349
https://hdl.handle.net/11436/10890

Koleksiyonlar

  • FEF, Fizik Bölümü Koleksiyonu [361]
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu [5364]



DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
İletişim | Geri Bildirim
Theme by 
@mire NV
 

 




| Yönerge | Rehber | İletişim |

DSpace@RTEÜ

by OpenAIRE
Gelişmiş Arama

sherpa/romeo

Göz at

Tüm DSpaceBölümler & KoleksiyonlarTarihe GöreYazara GöreBaşlığa GöreKonuya GöreTüre GöreDile GöreBölüme GöreKategoriye GöreYayıncıya GöreErişim ŞekliKurum Yazarına GöreBu KoleksiyonTarihe GöreYazara GöreBaşlığa GöreKonuya GöreTüre GöreDile GöreBölüme GöreKategoriye GöreYayıncıya GöreErişim ŞekliKurum Yazarına Göre

Hesabım

GirişKayıt

İstatistikler

Google Analitik İstatistiklerini Görüntüle

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
İletişim | Geri Bildirim
Theme by 
@mire NV
 

 


|| Rehber|| Yönerge || Kütüphane || Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi || OAI-PMH ||

Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi, Rize, Türkiye
İçerikte herhangi bir hata görürseniz, lütfen bildiriniz:

Creative Commons License
Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi Institutional Repository is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 Unported License..

DSpace@RTEÜ:


DSpace 6.2

tarafından İdeal DSpace hizmetleri çerçevesinde özelleştirilerek kurulmuştur.