• Türkçe
    • English
  • Türkçe 
    • Türkçe
    • English
  • Giriş
Öğe Göster 
  •   RTEÜ
  • Araştırma Çıktıları | TR-Dizin | WoS | Scopus | PubMed
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
  • Öğe Göster
  •   RTEÜ
  • Araştırma Çıktıları | TR-Dizin | WoS | Scopus | PubMed
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
  • Öğe Göster
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

CZTS layers formed under sulfur-limited conditions at above atmospheric pressure

Thumbnail

Göster/Aç

Full Text / Tam Metin (1.653Mb)

Erişim

info:eu-repo/semantics/closedAccess

Tarih

2019

Yazar

Olgar, Mehmet Ali
Bacaksız, Emin
Tomakin, Murat
Küçükömeroğlu, Tayfur
Başol, Bülent M.

Üst veri

Tüm öğe kaydını göster

Künye

Olgar, M.A., Bacaksız, E., Tomakin, M., Küçükömeroğlu, T. & Başol, B.M. (2019). CZTS layers formed under sulfur-limited conditions at above atmospheric pressure. Materials Science in Semiconductor Processing, 90, 101-106. https://doi.org/10.1016/j.mssp.2018.10.015

Özet

In this study CZTS thin films were grown by a two-stage process that involved sequential sputter deposition of metallic Cu, Zn, and Sn layers on Mo coated glass substrates followed by RTP annealing in a sulfur atmosphere at background gas pressures in the range of 1-2 atm. Sulfurization was carried out in a mini reaction volume that provided a relatively S-limited environment Reacted films were characterized using XRD, EDX, SEM, photoluminescence and Raman spectroscopy. It was found that, under the S-limited regime provided in these experiments the Cu-S secondary phase formation was most extreme in the sample grown at 1.5 aim, whereas films grown at lower and higher pressures showed much smaller degree of phase separation. Reaction at 2 atm yielded a compound film that was the closest to the initial precursor in terms of its composition. SEM micrographs showed rough morphology and polycrystalline structure that changed with the sulfurization pressure. the optical band gap of the films as determined by photoluminescence was found to be about 1.37 eV. These experiments demonstrated the importance of the sulfurization pressure as well as the size of the reactor internal volume in determining secondary phase formation in two-stage processed CZTS layers.

Kaynak

Materials Science in Semiconductor Processing

Cilt

90

Bağlantı

https://doi.org/10.1016/j.mssp.2018.10.015
https://hdl.handle.net/11436/1606

Koleksiyonlar

  • FEF, Fizik Bölümü Koleksiyonu [354]
  • Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu [5917]
  • WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu [5260]



DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
İletişim | Geri Bildirim
Theme by 
@mire NV
 

 




| Yönerge | Rehber | İletişim |

DSpace@RTEÜ

by OpenAIRE
Gelişmiş Arama

sherpa/romeo

Göz at

Tüm DSpaceBölümler & KoleksiyonlarTarihe GöreYazara GöreBaşlığa GöreKonuya GöreTüre GöreDile GöreBölüme GöreKategoriye GöreYayıncıya GöreErişim ŞekliKurum Yazarına GöreBu KoleksiyonTarihe GöreYazara GöreBaşlığa GöreKonuya GöreTüre GöreDile GöreBölüme GöreKategoriye GöreYayıncıya GöreErişim ŞekliKurum Yazarına Göre

Hesabım

GirişKayıt

İstatistikler

Google Analitik İstatistiklerini Görüntüle

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
İletişim | Geri Bildirim
Theme by 
@mire NV
 

 


|| Rehber|| Yönerge || Kütüphane || Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi || OAI-PMH ||

Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi, Rize, Türkiye
İçerikte herhangi bir hata görürseniz, lütfen bildiriniz:

Creative Commons License
Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi Institutional Repository is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 Unported License..

DSpace@RTEÜ:


DSpace 6.2

tarafından İdeal DSpace hizmetleri çerçevesinde özelleştirilerek kurulmuştur.